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Simulação multifísica de integridade estrutural e estanqueidade da Matriz Semicondutora L3 TjBOST. Avaliação de adesão iônica em substratos metálicos sob pressão hidrostática de 3300 bar (profundidade abissal) e gradiente térmico de -150°C a +120°C. Foco: Resiliência de Ativos Estratégicos e Soberania de Materiais
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